El Servei de Recursos Científics i Tècnics (SRCiT) de la Universitat Rovira i Virgili (URV) ha incorporat un espectròmetre de fotoelectrons de raig X. Aquest aparell, que rep el nom de ProvenX-NAP, usa una tecnologia capaç d’analitzar la superfície dels materials i oferir informació qualitativa i quantitativa sobre les propietats químiques, físiques i electròniques. Normalment, es fa servir en el camp de l’estudi d’estructures moleculars com catalitzadors, fibres, monocristalls, polímers, sensors de gasos i dispositius electrònics.

Actualment, és l’únic equip d’aquesta tipologia que es troba a Catalunya i pels investigadors és considerat com una peça de gran importància en el desenvolupament de nous materials i dispositius. A diferència d’altres tècniques, com podria ser la microscòpia, ofereix més profunditat d’anàlisi i és molt més selectiva. Alhora, dona una gran quantitat de detalls com l’estat d’oxidació, l’entorn químic o la mesura fotoelectrònica ultraviolada, aquesta última especialment útil en l’examinació dels dispositius electrònics i materials semiconductors.

Una de les particularitats de ProvenX-NAP és que pot treballar en pressions pròximes a l’atmosfèrica amb gasos inerts o reactius, cosa que els equips convencionals no poden fer. A més a més, pot seguir l’evolució tant d’elements a la superfície com dels gasos involucrats durant les reaccions químiques gràcies a l'espectròmetre de masses que porta integrat. “És un equip fonamental en l’àmbit de la catàlisi heterogènia, en què les reaccions químiques tenen lloc en la superfície d’un catalitzador sòlid”, assenyala el responsable de l’equip, Daniel Ruano. En els mesos que venen, està previst millorar la font de raig X per tenir una millor penetració en la mostra i obtenir informació a profunditats d’anàlisis diferents.